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物理(物性)測定器

ロレスターGX 低抵抗抵抗率計

日東精工アナリテック株式会社

本装置はJISK7194に準拠した測定法になっており、各種プローブにより導電性プラスチック、ITO薄膜、シリコンウェハーなど幅広い材質の測定が可能です。

ロレスターGX 低抵抗抵抗率計

製品仕様

必要な時に、必要なところで、低抵抗領域の表面抵抗率、体積抵抗率(比抵抗)、導電率を高精度に測定可能です。
測定レンジを10⁻⁴~10⁷ΩとロレスタGP(10⁻³~10⁷)に比べて拡大
電流の向きを変更することによりシリコンウェハーの測定が可能
定電流可変機構(微少電流によるサンプル測定が可能)
従来のロレスタGPのプローブが使用可能
2000件の測定結果をUSBメモリーに出力可能
タッチパネルの採用による操作性が向上